Kombination von Summen- und Differenzfrequenzspektroskopie mit Simulationen liefert erstmals strukturelle Informationen mit sehr guter Tiefenauflösung.
Forschende verfolgen präzise den zeitlichen Verlauf des ETMD-Prozesses in einem Modellsystem und verstehen so die Entstehung von Strahlenschäden besser.