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Das Center Nanoelectronic Technologies (CNT) des Fraunhofer-Instituts für Photonische Mikrosysteme IPMS begeht in diesem Jahr sein 20-jähriges Bestehen.
Die Installation eines optischen Messgeräts von Dive im Reinraum des Fraunhofer IPMS senkt den Kontrollaufwand während der Waferfertigung erheblich.
