Materials Science and Technology Vol. 2B, Characterization of Materials Part II

Von E. Lifshin (Hrsg.).
VCH, Weinheim 1994. XVII + 775 S., 491 Abb., 32 Tafeln, Hardcover,
ISBN 3-527-26813-8

Die Serie Materials Science and Technology gibt in 23 umfangreichen Bänden einen umfassenden Überblick über den aktuellen Stand der Materialwissenschaften. Band 2 behandelt in zwei Teilbänden Charakterisierungsmethoden für neue Materialien und Werkstoffe. Die Notwendigkeit der Aufteilung dieser Thematik in zwei dicke Bände zeigt bereits die Vielfalt des Methodenarsenals, das dem Materialwissenschaftler zur Untersuchung der Struktur/Eigenschaftsbeziehungen von Materialien heute zur Verfügung steht.

Während in Band 2A mehr die klassischen Methoden wie Lichtmikroskopie, (Raster )Elektronenmikroskopie, Röntgenfluoreszenz- und thermoanalytische Methoden im Vordergrund stehen, werden in Band 2B in elf Kapiteln mit stärkerer Gewichtung hochauflösende bzw. neuere oberflächenintensive Methoden besprochen. Hierzu zählen Feldionenmikroskopie (A. Cerezo, G. D. W. Smith), Ionenstrahltechniken (W. K. Chu et al.), Kleinwinkelstreuung von Röntgenstrahlen und Neutronen (C. E. Williams et al.) sowie akustische Mikroskopie (A. Briggs). Das umfangreichste Kapitel des Bandes mit 158 Seiten (N. J. DiNardo, 1994 auch als Monographie bei VCH erschienen) ist den Nahfeld-Rastersondentechniken (Tunnel-, Kraftmikroskopie und verwandte Methoden) gewidmet. Weitere Kapitel behandeln die mechanische Spektroskopie (R. de Batist), die Raster-Auger-Mikroskopie (M. A. Baker, J. E. Castle), die Neutronenstreuung (R. B. van Dreele) sowie die quantitative Beschreibung von Mikrostrukturen durch Bildanalysetechniken (H. E. Exner). Der Band wird von einem Artikel von D. L. Allara und P. Zhang zur Charakterisierung von Oberflächen, Grenzflächen und dünnen organischen Schichten abgeschlossen. Die Autoren stellen hier in sehr übersichtlicher Weise verschiedene oberflächensensitive Me thoden und ihre jeweiligen Anwendungsmöglichkeiten vergleichend dar. Behandelt werden unter anderem Grazing Incidence X-ray diffraction (GIXRD), Spektroskopische Ellipsometrie (SE), Oberflächenplasmonenresonanz (SPR), Raman-Spektroskopie (SERS) sowie nichtlineare optische Techniken wie Second Harmonic Generation (SHG) und Sum Frequency Generation (SFG).

Der Band wurde auf hochwertigem Papier gedruckt, die Abbildungen (einige wurden in Farbe reproduziert) sind von ausgezeichneter Qualität. Die Aktualität, die inhaltliche Breite und die professionelle Aufmachung des Werkes sprechen eindeutig für seine Anschaffung. Der hohe Preis des Gesamtwerkes dürfte heute jedoch so manche Institutsbibliothek in arge Verlegenheit bringen und Studenten und Doktoranden den Kauf unmöglich machen.

H. Fuchs, Münster

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