Scanning Probe Microscopy. Analytical Methods
Wiesendanger
Scanning Probe Microscopy. Analytical Methods
Von R. Wiesendanger (Hrsg.).
Springer, Heidelberg 1998. XII + 216 S., 139 Abb., Hardcover,
ISBN 3-540-63815-6
Sehr zeitgerecht hat Herr Wiesendanger, der mit seiner Arbeitsgruppe in Hamburg selbst intensiv verschiedenste Aspekte der Rastertunnelmikroskopie bearbeitet, der Autor eines wertvollen Lehrbuchs und Mitherausgeber verschiedener Übersichtsbände ist, einen weiteren äußerst interessanten Sammelband über den Einsatz von Rasterverfahren zu analytischen Zwecken herausgebracht. Der zentrale Themenkreis betrifft die Erzielung von chemischem Kontrast auf Nano meter- und letztendlich auch auf atomarer Skala. Dabei spielen als experimentelle Parameter bei Rastertunnelmikroskopie (RTM) neben Polarität, chemischer Zusammensetzung der Spitze, lokaler Tunnelbarriere und Austrittsarbeit auch elastische und inelasti sche Tunnelspektroskopie, bei Atomkraftmikroskopie Oberflächenelastizität, vertikale und laterale Kraftunterschiede wichtige Rollen. Die Autoren sind allesamt Experten, zum Großteil auch Pioniere der von ihnen beschriebenen Methoden.
Nach einer kurzen Einleitung des Herausgebers widmet sich Kap. 2 vonT.A. Jung,F.J. Himpsel, R.R. Schlittler undJ.K. Gimzewski den Möglichkeiten, mit Rasterproben-Mikroskopie und -Spektroskopie zu chemischer Information über die abgetasteten Oberflächen zu gelangen. In Kap. 3 diskutiert R. Möller, für welche Probleme Thermospannungsmessungen von Vorteil sein können. In Kap. 4 beschäftigt sich R. Wiesendanger mit der faszinierenden Frage, inwieweit die Unterscheidung verschiedener magnetischer Ionen mit spin-polarisierter RTM möglich ist und welche Informationen über den magnetischen Zustand der Proben man erhält. Ebenfalls sehr spannend zu lesen ist Kap. 5 von R. Berndt über Lichtemission aufgrund von in elastischen Tunnelprozessen bei RTM. In Kap. 6 diskutiert M. Völcker die aktuelle Frage, inwieweit das Einkoppeln von Laserlicht in ein RTM einen interessanten variablen externen Parameter für chemische Sensitivität ergibt. Das abschließende Kap. 7 von U.C. Fischer bringt einen Überblick über entsprechende Entwicklungen der optischen Rasternahfeld-Mikroskopie.
Alle Beiträge zeichnen sich durch gute Verständlichkeit aus und geben einen zuverlässigen Überblick über die technischen Erfordernisse für die verschiedenen Varianten, über die bisher erzielten wissenschaftlichen Resultate und schließen mit einer kritischen Einschätzung zukünftiger Möglichkeiten. Insgesamt zeichnet der Band ein ausgezeichnetes, lehrreiches Bild sehr wichtiger neuer Entwicklungen der Rastersondenmethoden, und das Buch wird deshalb nicht nur in den meisten Bibliotheken zu finden sein, sondern vor allem auf manchem Arbeitstisch im aktuellen Gebrauch.
Prof. Dr. Karl-Heinz Rieder, Institut für Experimentalphysik - WE 1, Freie Universität Berlin
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