Neues Rasterkraftmikroskop
Angebot: Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope, AFM) Jupiter Discovery mit hoher Leistung und außergewöhnlicher Benutzerfreundlichkeit
Merkmale: Mit diesem vielseitigen und auf große Proben ausgelegten AFM können Forschende in Wissenschaft und Industrie höchste Werte für Auflösung, Wiederholbarkeit und Durchsatz erreichen. Das Grundrauschen beträgt weniger als 25 Picometer. Das einzigartige Design mit einer ultrastabilen Granitbrücke und proprietären, extrem rauscharmen LVDT-Positionssensoren ermöglicht konsistent und einfach molekulare und sogar atomare Auflösung. Darüber hinaus verfügt das System über eine höhere elektronische und mechanische Bandbreite und erreicht Scan-Raten, die fünf- bis zwanzigmal höher sind als bei anderen auf große Proben ausgelegten AFMs.
Das Jupiter Discovery vereinfacht die AFM-Nutzung und bietet Innovationen wie vormontierte Sonden, die von Hand ausgetauscht werden können, sowie eine motorisierte Laserausrichtung mit nur einem Klick. Eine Seitenkamera ergänzt die hochauflösende Top-View-Optik des Systems, um interessante Bereiche schnell zu lokalisieren.
Die Benchmark-Leistung des Jupiter Discovery ist über die Ergo-Bediensoftware leicht abrufbar, die durch den Messvorgang leitet und sowohl Routineanalysen als auch erweiterte Messungen beschleunigt. Der neue FFM-Topografie-Modus mit Autopilot automatisiert die hochwertige Bildgebung. Die Bedienung vereinfacht sich so weit, dass nach der Auswahl des Scanbereichs die Messung direkt gestartet werden kann. Dies ist besonders vorteilhaft in zentralen Imaging Einrichtungen, in denen weniger erfahrene Nutzerinnen und Nutzer häufig ein AFM zur Charakterisierung der Probentopografie und -rauheit einsetzen.
Dank seiner Vielseitigkeit lässt sich das Jupiter Discovery an die Herausforderungen einer dynamischen multidisziplinären Forschung anpassen. Es steht eine große Auswahl an Zubehör und Funktionen zur Verfügung, darunter die photothermische Anregung mit blueDrive, das Heizen und Kühlen von Proben, Unterstützung für die Bildgebung in Flüssigkeiten und Zubehör für die Charakterisierung von Materialien unter Hochspannungsfeldern, Zugbelastung und Magnetfeldern.
