Probentisch für SEM-Applikationen
Angebot: Ultra-kompakte SEM-Probenstage zur kreativen Lösung komplexer Messaufgaben und Analysen.
Merkmale: Die ultra-kompakte Samplestage besitzt bis zu sechs Freiheitsgrade und wahlweise einen geschlossenen Regelkreis. Die geringen Abmaße sowie der modulare Aufbau kombiniert mit Positionsauflösung im Nanometer- bzw. Mikrogradbereich bieten einen nahezu 360°-Zugang zur Probe und eröffnen ein weites Spektrum an parallel nutzbaren in-situ Analysemethoden.
Die Probenstage und Peripherie sind individuell konfigurierbar und integrieren sich nahtlos sowohl in bereits bestehende Elektronenmikroskope sowie in individuelle Arbeitsabläufe.
Optionale Module wie ein automatischer Probenwechsel oder bis zu vier parallel operierende Probernadeln erweitern den Einsatzbereich, reduzieren Umbau- und Pumpzeiten und erhöhen damit die effektiven Messzeiten sowie die Lebensdauer der Elektronenmikroskope, in denen sich das System verwenden lässt.
