11.12.2025

100-fache Effizienzsteigerung für die Photoionisation

Röntgenimpulse des European XFEL für doppelt resonante Ionisierung von Krypton genutzt.

Auf die Geschwindigkeit kommt es an. Wenn ein Röntgenphoton ein Atom oder Ion anregt und ein inneres Elektron auf ein höheres Energieniveau springt, öffnet sich ein kurzlebiges Zeitfenster. Nur für wenige Femtosekunden, bevor ein Elektron die Lücke im niedrigeren Energieniveau füllt, hat ein zweites Photon die Chance, von einem anderen inneren Elektron absorbiert zu werden, wodurch ein doppelt angeregter Zustand entsteht. Mit fünftausend intensiven Röntgenblitzen pro Sekunde, die vom European XFEL erzeugt wurden, hat ein internationales Team von Wissenschaftler:innen solche doppelt angeregten Zustände in hochionisiertem Krypton untersucht, wobei Photonen verwendet wurden, die alle nahezu die gleiche Energie oder Farbe hatten.

Für ihre Experimente verwen­deten For­schende des Euro­pean XFEL und des Max-Planck-Instituts für Kern­physik (MPIK) in Heidel­berg sowie sechs weiterer Institu­tionen in Deutsch­land, Italien, Por­tu­gal und den Ver­einig­ten Staa­ten hoch gela­de­nes Krypton, Kr26+, dem alle Elek­tronen bis auf zehn fehlen. „Dadurch konnten wir uns ein klares Bild von dem Pro­zess machen und uner­wünschte Ein­flüsse anderer Elek­tronen aus­schließen“, sagt Thomas Bau­mann, Opera­tions Leader an der Experi­mentier­station SQS, wo die Arbeiten durchge­führt wurden. Die Verwen­dung dieser Krypton­ionen war vor­teil­haft, da für beide Schritte der reso­nan­ten Anre­gung von zwei inneren Elek­tronen die erfor­der­liche Photonen­energie sehr ähnlich ist. So konnte ein ein­far­biger Röntgen­strahl mit einer Band­breite von nur 0,5 % ver­wendet werden.

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„Diese Überlappung der Resonanz­energie hat ihren Ursprung in relati­visti­schen Effekten“, erklärt Moto Togawa. „Sie führen zu einer Ver­schie­bung der Energie­niveaus der inneren Elek­tro­nen, was eine perfekte Doppel­resonanz ermög­licht.“ Nach wenigen Femto­sekunden zerfällt der doppelt angeregte Zustand durch Elektronen­emission und erzeugt einen höheren Ladungs­zustand. Im Ver­gleich zur einfachen Photo­ioni­sation führt die doppelt reso­nante Methode zu einer mehr als 100-fach höheren Pho­tonen­absorp­tion – was die Effi­zienz erheb­lich steigert.

Laut José Crespo López-Urrutia, Gruppen­leiter am MPIK, „vertieft dieser Effekt nicht nur unser Ver­ständ­nis davon, wie Licht und Mate­rie unter extremen Beding­ungen inter­agieren, sondern eröff­net auch neue Mög­lich­keiten für hoch­präzise Röntgen­mes­sungen.“ Die For­schenden glauben, dass ihre Ergeb­nisse als effi­zientes Anregungs­schema für zukünftige zeitaufgelöste Experimente unter Verwendung des Zwei­farben­modus des SASE3-Undu­lators am Euro­pean XFEL anwendbar sind. Darüber hinaus wäre eine Erwei­terung auf Experi­mente mit harter Röntgen­strahlung unter Verwen­dung von XFELOs (X-ray Free-Electron Laser Oscil­lators), wie sie am Euro­pean XFEL ent­wickelt werden, denk­bar. [EuXFEL / MPIK / dre]

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