Mobile Elektronen
Vorzugsrichtung von Elektronen in Heterostrukturen öffnet Weg zu neuen Leistungstransistoren.
Für Smartphones und allgemein für die mobile Kommunikationstechnologie der nahen Zukunft wird eine neue Generation von Halbleiterbauelementen zwingend nötig sein: Der heute gängige 3G/4G-
Abb.: Vladimir Strocov an der ADRESS-
Forscher arbeiten daher weltweit an einer Alternative: auf Galliumnitrid basierende „HEMT" – kurz für „high electron mobility transistors", oder auf Deutsch: „Transistoren mit hoher Elektronenbeweglichkeit". In einem HEMT können sich Elektronen frei in einer Nanometer dünnen Schicht zwischen zwei unterschiedlichen Halbleitern bewegen. In ihrem Experiment gingen Vladimir Strocov vom PSI und seine Kollegen der Frage nach, wie man durch geschickte Konstruktion eines HEMT dazu beitragen kann, dass die Elektronen optimal fließen können. Ihr Ergebnis: Wenn man den Galliumnitrid-
Halbleiter leiten Strom nur dann, wenn man sie geschickt „präpariert". In klassischen Halbleiterbauteilen, etwa in Transistoren, geschieht das durch Dotierung. Das Problem ist dann jedoch, dass die fremden Atome die Elektronenbewegung verlangsamen. In den HEMT wird dieses Problem elegant gelöst. Hier bringt man geeignete Kombinationen von reinen Halbleitermaterialien in einer Art Sandwich so miteinander in Kontakt, dass sich an der Grenze eine Nanometer dünne leitende Schicht bildet. So kann auf die fremden Atome verzichtet werden. Diese Idee, die zuerst in den frühen 1980er Jahren von dem Japaner Takashi Mimura vorgeschlagen wurde, kommt bereits heute in den Hochfrequenzschaltkreisen aller Smartphones zum Einsatz.
In der Praxis spielt jedoch auch eine Rolle, dass die Atome in einem Halbleiter stets in einer bestimmten, wiederkehrenden Kristallstruktur angeordnet sind. So hat zum Beispiel der von Strocov und seinem Team untersuchte HEMT aus Aluminiumnitrid und Galliumnitrid in seiner Grenzschicht eine sechsfache Symmetrie: Es gibt sechs gleichwertige Richtungen entlang der Atomketten. Um den Elektronenfluss innerhalb der Grenzschicht zu untersuchen, legten die Forscher ihren HEMT unter ein besonderes „Mikroskop" – eines, das nicht die Positionen, sondern die Ausbreitungsgeschwindigkeiten der Elektronen untersucht: Die ADRESS-
Der technische Begriff dieser Untersuchungsmethode ist „ARPES" („angle-
Die hohe Intensität der Strahlung an der SLS – die vergleichbare Anlagen bei Weitem übertrifft – war dabei von entscheidender Bedeutung, wie Leonid Lev und Ivan Maiboroda vom Kurchatov-
Die Konsequenz ist ein Leistungsschub für die 5G-
PSI / DE