31.10.2018

Messen Sie M2 in weniger als einer Minute

Das M2-Lasermessgerät Ophir BeamSquared 2.0 ermittelt die optische Güte des Laserstrahls schnell und präzise.

Abb.: BeamSquared, kamerabasierte Strahlprofil-Analyse: M2 (Bild: Ophir)

In weniger als einer Minute zeigt das kompakte Messgerät die wichtigsten Kennzahlen sowohl von Dauerstrich als auch von gepulsten Lasern und ermöglicht den Anwendern damit, die Performance und Fokussierbarkeit ihres Laserstrahls zu optimieren. Im automatischen Modus lässt sich BeamSquared von UV bis zum nahen IR-Bereich sowie für Wellenlängen in der Telekommunikation nutzen; in Kombination mit geeigneten Ophir Sensoren analysiert die neuentwickelte M2-Software auch Terahertz- und CO2-Laserstrahlen mit einer Wellenlänge größer als 1,8 Mikrometer. BeamSquared 2.0 stellt den Strahl in 2D und 3D dar und bietet umfangreiche Reporting-Funktionen, eine Automatisierungsschnittstelle über .NET- Komponenten und anpassbare Messoptionen.

BeamSquared wurde für den kontinuierlichen Betrieb sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen entwickelt. Es besteht aus einer hochpräzisen CCD- oder InGaAs-Matrixkamera, einem Strahlengang sowie der leistungsfähigen M2-Software. Die Software erfasst die Kenngrößen der Strahlausbreitung sowohl in der X- und Y-Achse, darunter Durchmesser und Lokation der Strahltaille, Winkeldivergenz, Rayleigh-Längen, M2 bzw. K-Zahl, das Strahlparameter-Produkt sowie Astigmatismus und Asymmetrie. Insbesondere die Kombination aus längeren Strahlengang und dem von Ophir patentierten UltraCal Kalibrier-Algorithmus gewährleistet die ISO11146-Konformität und liefert Messergebnisse in höchster Präzision und sekundenschnell.

Ophir / od

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Forschung lebt von Präzision. Seit über 40 Jahren steht Quantum Design für innovative Messtechnik auf höchstem Niveau – entwickelt in Kalifornien, betreut weltweit. Unsere Systeme sind der Goldstandard in der Materialcharakterisierung und ermöglichen tiefe Einblicke in die magnetischen, thermischen und optischen Eigenschaften von neuen Materialien.

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