Elektronenmikroskopie auf kleinstem Raum
Angebot: Ultra-kompakte, modulare Probenplattform für anspruchsvolle Forschungs- und Industrieanwendungen in der Elektronenmikroskopie.
Merkmale: Die Lösung basiert auf einer nanometerpräzisen Probenstage, die Bewegungen in bis zu sechs Freiheitsgraden ermöglicht. Großer Bewegungsraum und kompakte Abmaße erlauben nahezu uneingeschränkten Zugang zur Probe unter jedem Raumwinkel.
Das Konzept ermöglicht die Anpassung an individuelle Anforderungen – von automatisierten Probenwechseln bis hin zu
nanometerpräzisem elektrischem Multi-PunktProbing oder Lift-Out - gezielt für komplexe Analyse- und Präparationsaufgaben.
Probenstage, Module und Steuerung arbeiten unabhängig vom verwendeten Mikroskop und ermöglichen sowohl die Integration in neue Systeme als auch die Nachrüstung bestehender Anlagen. Flexible Steuerungskonzepte – von manueller Bedienung bis zur vollautomatisierten Prozessführung – werden durch anpassbare Benutzeroberflächen, kundenspezifische Kinematikmodelle und eine umfassende API ergänzt. Zusätzliche Funktionalitäten lassen sich flexibel ergänzen und vollständig neue Workflows realisieren.
Anwendungen: Die Plattform bietet eine zukunftssichere Grundlage für präzise Probenmanipulation, erweiterte Analytik und effiziente Automatisierung in allen Bereichen der modernen Elektronenmikroskopie und ist ebenso für Tomographie, Röntgenspektroskopie und elektrisches Probing geeignet. Darüber hinaus ist sie für Anwendungen im Ultrahochvakuum, bei Tieftemperaturen im Kryo-Bereich sowie in anderen extremen Umgebungen geeignet
