08.09.2017

Nanokosmos sichtbar gemacht

Daten der Rasterkraftmikroskopie sind künftig direkt ver­gleichbar.

Kleinste Strukturen auf der Ebene von Atomen und Molekülen lassen sich mit der Raster­kraft­mikro­skopie sichtbar machen. Seit ihrer Erfin­dung durch Gerd Binnig sind drei Jahr­zehnte ver­gangen, in denen die Mess­methode tiefe Ein­blicke in den Nano­kosmos ermög­licht hat – insbe­sondere für die Grund­lagen­forschung in der Chemie, Physik und den Material­wissen­schaften, aber auch in der Bio­logie. Forschungen der Arbeits­gruppe von Angelika Kühnle an der Uni Mainz zeigen jetzt, wie die ver­schie­denen Analyse­methoden für die Raster­kraft­mikro­skopie ver­einheit­licht werden können.

Abb.: Hochauf­lösende Auf­nahme der Grenz­fläche zwischen dem Mineral Calcit und flüs­sigem Wasser: Direkt über der Ober­fläche des Minerals (unten) ist eine schach­brett­artige Struktur zu erkennen, die zeigt, wo sich Wasser­moleküle bevor­zugt auf­halten. (Bild: H. Söngen, U. Mainz)

Bei der Rasterkraftmikroskopie wird eine feine Nadel, die vorne auf wenige Nano­meter zuge­spitzt ist, über eine Ober­fläche bewegt und erfühlt diese Fläche. Die Bewe­gungen der Nadel werden über einen Biege­balken abge­leitet und gemessen. In den dreißig Jahren seit Erfin­dung der Raster­kraft­mikro­skopie haben sich ver­schie­dene Betriebs­modi heraus­ge­bildet, darunter die Ampli­tuden­modu­lation und die Frequenz­modu­lation als die beiden wich­tig­sten Ver­treter. Die Ana­lyse der jeweils erhal­tenen Daten beruhte dann meistens auf ver­fahrens­spezi­fischen An­nahmen und Annähe­rungen. „Wir haben nun alle Mess-Modi zusammen­gefasst und ver­einheit­lichen die Theorie für alle Modi“, erklärt Hagen Söngen von der Uni Mainz.

Damit besteht die Möglichkeit, dass unterschiedliche Gebiete der Ober­flächen­forschung mittels Raster­kraft­mikro­skopie näher zusammen­rücken und sich besser aus­tauschen können. „Der direkte Ver­gleich von Daten, die mit unter­schied­lichen Methoden analy­siert wurden, kann extrem mühsam und anspruchs­voll sein“, so Söngen. „Das Tolle an der neuen Analyse­methode ist jetzt, dass wir unab­hängig von dem verwen­deten Modus eine einheit­liche Methode vor­legen, die Auf­schluss über die Kraft zwischen der Mess­spitze und der Material­probe liefert, und wir dann die Daten einfach mit­ein­ander ver­gleichen können.“

JGU / RK

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