19.12.2014

Neues Mitglied an Bord

Großbritannien tritt als nächstes Vollmitglied dem European XFEL bei.

Großbritannien wird das zwölfte Mitgliedsland beim European XFEL. Diese internationale Groß­forschungs­einrichtung wird derzeit in der Metropolregion Hamburg gebaut und soll 2017 den Nutzerbetrieb aufnehmen. Der für Universitäten und Wissenschaft zuständige britische Minister Greg Clark und der britische Science und Technology Facilities Council (STFC) teilten gestern mit, dass Großbritannien bis zu 30 Millionen Pfund (etwa 38 Millionen Euro) für die Vollmitgliedschaft bereitstellen wird.

Der Röntgenlaser European XFEL wird extrem intensive Röntgenblitze erzeugen. Mit ihnen können Forscher Strukturen im Nanobereich, ultraschnelle Prozesse sowie extreme Materiezustände untersuchen, dreidimensionale Bilder von Viren und Proteinen erzeugen und chemische Reaktionen filmen.

„Wir freuen uns sehr, dass Großbritannien nun offiziell Partnerland unserer Forschungseinrichtung werden möchte“, sagte Massimo Altarelli, Geschäfts­führer am European XFEL. „Wir sind seit langem mit der britischen Forschergemeinde in Kontakt und schätzen die Ideen, das Know-how und den Enthusiasmus unserer Kollegen sehr.“

„Wir werden nun Verhandlungen über die formelle Mitgliedschaft Großbritanniens bei dieser spannenden neuen Forschungs­einrichtung aufnehmen, dabei unsere nationalen Ressourcen und Forschungs­einrichtungen einbringen und so Großbritannien erlauben, völlig neue wissenschaftliche Möglichkeiten zu entwickeln“, sagte John Womersley vom STFC in einer auf der Website der Einrichtung veröffentlichten Erklärung.

Im Juli 2014 hatten die britischen Organisationen Biotechnology and Biological Sciences Research Council (BBSRC), Medical Research Council (MRC) und Wellcome Trust mitgeteilt, 5,64 Millionen Pfund (zirka 7 Millionen Euro) zu einem Nutzerkonsortium bei European XFEL beizusteuern. Mit der für fünf Jahre – von 2014 bis 2019 – vorgesehenen Förderung tragen die britischen Organisationen zum Bau und Betrieb der SFX-Experimentierstation für serielle Femtosekunden-Kristallographie bei, an der Nanokristallographie und Probenscreening mit optimiertem Durchsatz durchgeführt werden sollen.

European XFEL / DE

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