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21.06.2011 • NachrichtForschung

Genau hingeschaut

Hochgenaue Sensoren und Positioniersysteme ermöglichen bei der Nanoindentierung eine Werkstoffprüfung im Subnanometerbereich.

21.06.2011 • NachrichtForschung

Umfassende Analyse

Mit einer Kombination aus Rasterkraftmikroskopie und Infrarotspektroskopie lassen sich topografische und chemische Eigenschaften von nanometergroßen Proben bestimmen.

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